ISO 14644-1說明取樣系統造成顆粒沉積損失，以及較低濃度，所以大於1 um顆粒依此法規做無塵等級分類不適合，顆粒越大，換氣率對其影響越不顯著—換氣帶不走大顆粒，只能帶走小顆粒ISO 14644-1說明大於1um濃度低難偵測。
大型粒子的飛散軌跡的研究發現顆粒大小，相對於在空氣中飛行距離而言，顆粒越小飛行越遠，顆粒越大飛行越近.所以大型顆粒產生的來源，一般都是機械運作、震動、衣服、操作者自身，或是衣服等等因素造成，而且會掉在發塵源本身附近，而小顆粒可能來源是各種不同來源的顆粒，隨著氣流的吹動、擾動，被攜帶到無塵室的各個角落，通常是顆粒性的非金屬性質來源，而這些小顆粒雖然可以利用現行的ISO 14644-1法規，以及Air Particle Counter, APC 做無塵等級的分類，但是大顆粒現行的量測工具，無法有效採樣，在風險管理上一直是個迷無法掌握，也無法管理.
不過在現行ISO 14644-17:2021已經公布了表面顆粒沉降標準(Particle Deposition Rate, PDR)的管理要求， 要求各類無塵室場所訂點其顆粒沉降標準管制(Particle Deposition Rate Limit, PDRL)，要實現此管理規範，需要表面微粒子計數器(Surface Particle Counter, SPC)才可以實現
